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產(chǎn)品資料

兒童智力測(cè)試儀器

如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 兒童智力測(cè)試儀器
產(chǎn)品型號(hào): EFX-1型
產(chǎn)品展商: sddxqc
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹

儀器主要對(duì)0-16歲兒童的智力進(jìn)行測(cè)試和評(píng)定。


兒童智力測(cè)試儀器  的詳細(xì)介紹

兒童智力檢測(cè)儀器的主要功能是對(duì)0-16歲兒童的智商進(jìn)行檢測(cè)。


測(cè)評(píng)方法: 1、丹佛智能測(cè)試(DDST):可對(duì)0--6歲嬰幼兒進(jìn)行智力測(cè)試。

                2、圖片詞匯測(cè)試(PPVT):對(duì)3歲半至9歲2個(gè)月的兒童進(jìn)行智力測(cè)評(píng)。

                3、繪人智能測(cè)試(MOD):測(cè)試4--12歲兒童智商的成熟程度。

                4、聯(lián)合型瑞文稿測(cè)試(CRT-C3):2007年新修定版本。

                                  城鎮(zhèn)為6歲7個(gè)月--16歲6個(gè)月

                                  非城鎮(zhèn)為6歲7個(gè)月--14歲6個(gè)月

                5、儀器另有世衛(wèi)組織通用的50余種智力檢測(cè)方法



兒童智力檢測(cè)儀測(cè)試時(shí)間

   DDST測(cè)試時(shí)間一般在10~30分鐘;

   PPVT根據(jù)被測(cè)試兒童的實(shí)際年齡而定,一般長為20分鐘;

   MOD 測(cè)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間為20分鐘,兒童多在10分鐘之內(nèi)完成;

   CRT-C3測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間為20~40分鐘,大部分兒童可在20分鐘之內(nèi)完成


兒童智力檢測(cè)儀標(biāo)準(zhǔn)配置:

       A型儀器:軟件包:(包括丹佛智能測(cè)試、圖片詞匯測(cè)試、繪人智能測(cè)試、聯(lián)合型瑞文稿測(cè)試),臺(tái)車,音響設(shè)備,攝像設(shè)備,品牌電腦一套(包括電腦、觸摸式液晶顯示器、打印機(jī))

如您需要具體了解兒童智力測(cè)試儀器的功能,請(qǐng)來電咨詢!







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